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影響RFID系統(tǒng)測試性能的幾個因素

日期:2022.08.06     作者:江湖衛(wèi)士

因素1:讀寫器發(fā)射功率

讀寫器的發(fā)射功率越大,讀寫距離就越大。

因素2:讀寫器天線增益和波束寬度

天線增益越大,波束寬度越小,讀寫距離越遠,范圍越窄,讀取范圍控制越好。

因素3:讀寫器和標簽的靈敏度

標簽芯片和讀寫器的靈敏度會影響讀寫距離,靈敏度越高,讀寫距離越遠。

因素4:多標簽數(shù)量

在多標簽環(huán)境下,在單位時間內,RFID讀取的標簽數(shù)量也會影響讀寫器的多標簽讀寫性能。

因素5:讀寫器處理碰撞問題的算法

一般來說,標簽有兩種碰撞問題:

1.多標簽碰撞:多標簽與讀寫器通信時的碰撞可以通過調整讀寫器本身的防碰撞算法來解決。

2.多讀寫器碰撞:多讀寫器與標簽通信時的碰撞,通過將讀寫器設置為不同的session(通話)和標簽通信或測試時關閉其他讀寫器。

6:標簽粘貼材料材料材料

金屬和液體會影響電磁波,需要特殊設計的抗金屬標簽和抗液體標簽:

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?液體應用-必須使用特殊設計的液體標簽;

n

?金屬表面-必須使用抗金屬標簽;

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如果遇到這兩種材料的標簽,也可以使用標簽——標簽不會直接粘貼在金屬或液體容器表面,芯片和天線部分不會與容器接觸。同時,在液體和金屬的應用中,要注意物品的擺放方式。堆積過多會導致內讀取率低。

因素7:測試環(huán)境

RFID建議在開放的環(huán)境中進行性能測試。讀寫器天線與標簽之間存在金屬或液體障礙物,環(huán)境中與頻率接近的電磁干擾會影響測試性能。

首先要確認測試環(huán)境中是否有金屬障礙物干擾,如金屬網(wǎng)、密集金屬網(wǎng)等。UHF信號產(chǎn)生屏蔽作用,導致大衰減,導致標簽信息無法讀取。

其次,如果貨物的性質(金屬、液體、服裝等)是否會影響電磁波,也需要避免多層堆放,同時,RFID設備應與其他物品保持距離,避免串讀。

以上是影響RFID系統(tǒng)測試性能的幾個因素,如果在測試過程中遇到性能受到影響,不妨對比一下,希望能讓你的性能受到影響RFID測試過程更順暢!


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